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Sinossi
Reviews techniques by which silicon processing engineers working with semiconductors can meet the demands for improved material quality and performance made necessary by increasingly stringent requirements, such as decreasing barrier film thicknesses. Among the techniques described are monitoring the effectiveness of surface cleaning processes; determining the amount of silicon consumption during barrier film and silicide growth; and silicon selective epitaxial growth. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.
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Book by Strausser Yale
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Characterization in Silicon Processing
Editore:
Saint Louis, Missouri, U.S.A.: Butterworth-Heinemann, 1993
ISBN 10: 0750691727
ISBN 13: 9780750691727
Antico o usato
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Da: Rob the Book Man, Vancouver, WA, U.S.A.
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Hardcover. Condizione: Very Good. Hardback in very good condition. Libary stamp on bottom of pages. Codice articolo 21838
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