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`This well-crafted summary of research and engineering in software defect estimation and operational profile modeling is a useful addition to the software reliability engineering literature.'
Computing Reviews (June 1999)
Preface. 1. Introduction. 2. Empirical Regression Methods. 3. Dynamic Methods. 4. Capture-Recapture Methods. 5. Decomposition Methods. 6. Neural Network Methods. 7. Software Defect Estimations Under Imperfect Debugging. 8. Software Operational Profile Modelling. 9. Modeling of Probably Zero-Defect Software. Index.
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Buch. Condizione: Neu. Software Defect and Operational Profile Modeling | Kai-Yuan Cai | Buch | xix | Englisch | 1998 | Springer US | EAN 9780792382591 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. Codice articolo 102549241
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