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Book by KwangTing Tim Cheng Agrawal Vishwani D
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
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Da: thebookforest.com, San Rafael, CA, U.S.A.
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Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation:
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Boston. Kluwer Academic, 1989
ISBN 10: 0792390253
ISBN 13: 9780792390251
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8° , Hardcover/Pappeinband. Condizione: Sehr gut. XII, 148 Seiten. Mit Illustrationen. Ausgetragenes Bibliotheksexemplar mit Inventaraufkleber auf Rücken und Vorsatz. Leihkarte in Tasche am Nachsatz. In sehr gutem Zustand. DE-10-19e Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 435. Codice articolo 1873643
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
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Condizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 148 pages, biography. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1989. Hardback. . . . . Codice articolo V9780792390251
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