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Book by KwangTing Tim Cheng Agrawal Vishwani D
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation:
Editore:
Boston. Kluwer Academic, 1989
ISBN 10: 0792390253
ISBN 13: 9780792390251
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Da: avelibro OHG, Dinkelscherben, Germania
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8° , Hardcover/Pappeinband. Condizione: Sehr gut. XII, 148 Seiten. Mit Illustrationen. Ausgetragenes Bibliotheksexemplar mit Inventaraufkleber auf Rücken und Vorsatz. Leihkarte in Tasche am Nachsatz. In sehr gutem Zustand. DE-10-19e Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 435. Codice articolo 1873643
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
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Condizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 148 pages, biography. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1989. Hardback. . . . . Codice articolo V9780792390251
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
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Buch. Condizione: Neu. Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation | Kwang-Ting Cheng (u. a.) | Buch | xii | Englisch | 1989 | Springer | EAN 9780792390251 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. Codice articolo 102435967
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