Characterization of Semiconductor Materials: Principles and Methods: 001 - Rilegato

 
9780815512004: Characterization of Semiconductor Materials: Principles and Methods: 001
Rilegato
ISBN 10: 0815512007 ISBN 13: 9780815512004
Casa editrice: Noyes Pubns, 1989

Sinossi

Characterization of semiconductor materials and methods used to characterize them will be described extensively in this new Noyes series. Written by experts in each subject area, the series will present the most up-to-date information available in this rapidly advancing field. Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, Ion/Solid Interactions and more.

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Product Description

Book by McGuire Gary F

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Editore
Noyes Pubns
Data di pubblicazione
1989
Lingua
Inglese
ISBN 10 
0815512007
ISBN 13 
9780815512004
Rilegatura
Copertina rigida
Numero edizione
1
Numero di pagine
342
Redattore
McGuire Gary E.
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile