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Sinossi
Reprints of papers taken from 18 different journals, published between 1967 and 1987. They give a comprehensive overview of very large-scale integration testing. No significant prior experience in testing is assumed. Concepts and current practices are emphasized. Chapters are preceded by a tutorial. Graphs and illustrations are featured in most pages. Topics include fault modeling, test generation, test evaluation, testability analysis, design for testability, and automatic test equipment. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Editore:
IEEE Computer Society, 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
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Da: Ammareal, Morangis, Francia
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Hardcover. Condizione: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Petite(s) trace(s) de pliure sur la couverture. Légères traces d'usure sur la couverture. Salissures sur la tranche. Couverture différente. Edition 1988. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisat ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Slightly creased cover. Slight signs of wear on the cover. Stains on the edge. Different cover. Edition 1988. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. Codice articolo E-812-693
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Editore:
IEEE Computer Society Press,U.S., 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
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Da: Buchpark, Trebbin, Germania
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. Codice articolo 42682699/202
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Test Generation for VLSI Chips
Editore:
Computer Society Press, 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Antico o usato
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Da: Rob the Book Man, Vancouver, WA, U.S.A.
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Hardcover. Condizione: Very Good. hardcover in very good + condition. Codice articolo 600383
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Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Da: BOOKWEST, Phoenix, AZ, U.S.A.
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Hardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA. Codice articolo 110C1-081868786X
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