Articoli correlati a Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Sinossi
Reprints of papers taken from 18 different journals, published between 1967 and 1987. They give a comprehensive overview of very large-scale integration testing. No significant prior experience in testing is assumed. Concepts and current practices are emphasized. Chapters are preceded by a tutorial. Graphs and illustrations are featured in most pages. Topics include fault modeling, test generation, test evaluation, testability analysis, design for testability, and automatic test equipment. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.
Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.
Product Description
Book by None
Le informazioni nella sezione "Su questo libro" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.
- EditoreIEEE Computer Society
- Data di pubblicazione1988
- ISBN 10 081868786X
- ISBN 13 9780818687860
- RilegaturaCopertina rigida
- LinguaInglese
- Numero di pagine400
- RedattoreAgrawal Vishwani D., Seth Sharad C.
- Contatto del produttorenon disponibile
Compra nuovo
Visualizza questo articolo
EUR 181,19
EUR 26,38 per la spedizione da U.S.A. a Italia
Destinazione, tempi e costiRisultati della ricerca per Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Foto dell'editore
Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Editore:
IEEE Computer Society Press,U.S., 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Antico o usato
Rilegato
Da: Buchpark, Trebbin, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut - Gepflegter, sauberer Zustand. Außen: verschmutzt. Innen: Seiten eingerissen. Aus der Auflösung einer renommierten Bibliothek. Kann Stempel beinhalten. | Seiten: 400 | Sprache: Englisch | Produktart: Sonstiges. Codice articolo 42682699/202
Quantità: 2 disponibili
Foto dell'editore
Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Editore:
IEEE Computer Society, 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Antico o usato
Rilegato
Da: Ammareal, Morangis, Francia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Petite(s) trace(s) de pliure sur la couverture. Légères traces d'usure sur la couverture. Salissures sur la tranche. Couverture différente. Edition 1988. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisat ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Slightly creased cover. Slight signs of wear on the cover. Stains on the edge. Different cover. Edition 1988. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. Codice articolo E-812-693
Quantità: 1 disponibili
Foto dell'editore
Test Generation for VLSI Chips
Editore:
Computer Society Press, 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Antico o usato
Rilegato
Da: Rob the Book Man, Vancouver, WA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. hardcover in very good + condition. Codice articolo 600383
Quantità: 1 disponibili
Foto dell'editore
Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Editore:
IEEE Computer Society, 1988
ISBN 10: 081868786X
ISBN 13: 9780818687860
Antico o usato
Rilegato
Da: dsmbooks, Liverpool, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
hardcover. Condizione: Good. Good. book. Codice articolo D8S0-3-M-081868786X-6
Quantità: 1 disponibili
Foto dell'editore
Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Da: BOOKWEST, Phoenix, AZ, U.S.A.
Valutazione del venditore 2 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA. Codice articolo 110C1-081868786X
Quantità: 1 disponibili