Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips - Rilegato

 
9780818687860: Tutorial: Test Generation for Vlsi Chips
Rilegato
ISBN 10: 081868786X ISBN 13: 9780818687860
Casa editrice: IEEE Computer Society, 1988

Sinossi

Reprints of papers taken from 18 different journals, published between 1967 and 1987. They give a comprehensive overview of very large-scale integration testing. No significant prior experience in testing is assumed. Concepts and current practices are emphasized. Chapters are preceded by a tutorial. Graphs and illustrations are featured in most pages. Topics include fault modeling, test generation, test evaluation, testability analysis, design for testability, and automatic test equipment. Annotation copyright Book News, Inc. Portland, Or.

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Editore
IEEE Computer Society
Data di pubblicazione
1988
Lingua
Inglese
ISBN 10 
081868786X
ISBN 13 
9780818687860
Rilegatura
Copertina rigida
Numero di pagine
400
Redattore
Agrawal Vishwani D., Seth Sharad C.
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile