1998 International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems, Dft '98 - Brossura

IEEE International Symposium On Defect And Fault Tolerance In VLSI Systems

 
9780818688324: 1998 International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems, Dft '98
Brossura
ISBN 10: 0818688327 ISBN 13: 9780818688324
Casa editrice: IEEE Computer Society, 1998

Sinossi

This volume covers topics including: yield and defect density; reliability enhancement; defect and fault analysis; testing techniques; fault diagnosis; fault-tolerant designs; high-level synthesis of reliable systems; and yield and reliability issues of analogue and mixed signal circuits.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
IEEE Computer Society
Data di pubblicazione
1998
Lingua
Inglese
ISBN 10 
0818688327
ISBN 13 
9780818688324
Rilegatura
Copertina flessibile
Numero di pagine
325
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile