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Sinossi
Reports research promoting a better design approach to testing integrated circuits based on high-level test synthesis, which is able to explore the synthesis freedom provided at a high level to derive an inherently testable architecture at low or even no overhead. Presents several effective schemes for highly testable digital circuits, assuming a non-scan or partial-scan test strategy. These schemes are implemented in the Princeton HI- level Test Synthesis system, which is also presented. Based on a Ph. D. dissertation for Princeton. Double spaced. Annotation c. by Book News, Inc., Portland, Or.
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Product Description
Book by Lee Mike TienChien
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High-level test synthesis of digital VLSI circuits. The Artech House solid-state technology library.
Editore:
Boston, Artech House, 1997
ISBN 10: 0890069077
ISBN 13: 9780890069073
Antico o usato
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Da: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
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Hardcover. 220 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. X-15808 9780890069073 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550. Codice articolo 2391757
Quantità: 1 disponibili
Foto dell'editore
High-Level Test Synthesis of Digital VLSI Circuits (Artech House Solid-State Technology Library)
Editore:
Artech House Publishers, 1997
ISBN 10: 0890069077
ISBN 13: 9780890069073
Antico o usato
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Da: Anybook.com, Lincoln, Regno Unito
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Quantità: 1 disponibili
Foto dell'editore
High-Level Test Synthesis of Digital VLSI Circuits
Editore:
Artech House Publishers, 1997
ISBN 10: 0890069077
ISBN 13: 9780890069073
Antico o usato
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Da: Buchpark, Trebbin, Germania
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Condizione: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. Codice articolo 2262449/3
Quantità: 2 disponibili