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Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Brossura

Laurila, Tomi; Vuorinen, Vesa; Paulasto-Kröckel, Mervi

 
9781447124719: Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach
Brossura
ISBN 10: 1447124715 ISBN 13: 9781447124719
Casa editrice: Springer, 2012

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Sinossi

Introduction: Away from trial and error methods.- Materials and interfaces in Microsystems.- Introduction to mechanics of materials.- Introduction to thermodynamic-kinetic method.- Interfacial adhesion in polymer systems.- Evolution of different types of interfacial structures.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
Springer
Data di pubblicazione
2012
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1447124715
ISBN 13 
9781447124719
Rilegatura
Paperback
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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