From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Brossura

Libro 28 di 40: Frontiers in Electronic Testing

Khare, Jitendra B.; Maly, Wojciech

 
9781461313786: From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications
Brossura
ISBN 10: 1461313783 ISBN 13: 9781461313786
Casa editrice: Springer, 2011

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Editore
Springer
Data di pubblicazione
2011
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1461313783
ISBN 13 
9781461313786
Rilegatura
Taschenbuch
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
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