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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - Brossura

Bhattacharya, Debashis; Hayes, John P.

 
9781461315285: Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Brossura
ISBN 10: 146131528X ISBN 13: 9781461315285
Casa editrice: Springer, 2011

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Editore
Springer
Data di pubblicazione
2011
Lingua
Inglese
ISBN 10 
146131528X
ISBN 13 
9781461315285
Rilegatura
Paperback
Contatto del produttore
non disponibile
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