Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Brossura

Shen, Ruijing; Tan, Sheldon X.-D.; Yu, Hao

 
9781461407898: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Brossura
ISBN 10: 1461407893 ISBN 13: 9781461407898
Casa editrice: Springer, 2012

Al momento non sono disponibili copie per questo codice ISBN.

Sinossi

Fundamentals of Statistical Analysis.- Statistical Full-Chip Leakage Power Analysis.- Statistical Full-Chip Dynamic Power Analysis.- Statistical Parasitic Extraction.- Statistical Compact Modeling and Reduction of Interconnects.- Statistical Analysis of Global Interconnects.- Statistical Analysis and Modeling for Analog and Mixed-Signal Circuits.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
Springer
Data di pubblicazione
2012
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1461407893
ISBN 13 
9781461407898
Rilegatura
Taschenbuch
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Germania

Altre edizioni note dello stesso titolo

9781461407874: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer Vlsi Designs

Edizione in evidenza

ISBN 10:  1461407877 ISBN 13:  9781461407874
Casa editrice: Springer Nature, 2012
Rilegato