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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Brossura

Shen, Ruijing; Tan, Sheldon X.-D.; Yu, Hao

 
9781461407898: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Brossura
ISBN 10: 1461407893 ISBN 13: 9781461407898
Casa editrice: Springer, 2012

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Sinossi

Fundamentals of Statistical Analysis.- Statistical Full-Chip Leakage Power Analysis.- Statistical Full-Chip Dynamic Power Analysis.- Statistical Parasitic Extraction.- Statistical Compact Modeling and Reduction of Interconnects.- Statistical Analysis of Global Interconnects.- Statistical Analysis and Modeling for Analog and Mixed-Signal Circuits.

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Editore
Springer
Data di pubblicazione
2012
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1461407893
ISBN 13 
9781461407898
Rilegatura
Paperback
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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