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9781461461647: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Brossura
ISBN 10: 1461461642 ISBN 13: 9781461461647
Casa editrice: Springer, 2013

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Sinossi

Introduction.- CMOS Reliability Overview.- Transistor Aging Compact Modeling.- Background on IC Reliability Simulation.- Analog IC Reliability Simulation.- Integrated Circuit Reliability.- Conclusions.

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Editore
Springer
Data di pubblicazione
2013
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1461461642
ISBN 13 
9781461461647
Rilegatura
Paperback
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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