Articoli correlati a Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computatio...

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - Brossura

Pineda De Gyvez, José

 
9781461531593: Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Brossura
ISBN 10: 1461531594 ISBN 13: 9781461531593
Casa editrice: Springer, 2011

Al momento non sono disponibili copie per questo codice ISBN.

Sinossi

Foreword. Preface. 1. Introduction. 2. Defect Semantics and Yield Modeling. 3. Computational Models for Defect-Sensitivity. 4. Single Defect Multiple Layer. 5. Fault Analysis and Multiple Layer Critical Areas. 6. Single Defect Single Layer (SDSL) Model. 7. IC Yield Prediction and Single Layer Critical Areas. 8. Single vs. Multiple Layer Critical Areas. References. Appendix 1: Sources of Defect Mechanisms. Appendix 2: End Effects of Critical Regions. Appendix 3: NMOS Technology File. Index.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
Springer
Data di pubblicazione
2011
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1461531594
ISBN 13 
9781461531593
Rilegatura
Paperback
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

(nessuna copia disponibile)

Cerca:



Inserisci un desiderata

Non riesci a trovare il libro che stai cercando? Continueremo a cercarlo per te. Se uno dei nostri librai lo aggiunge ad AbeBooks, ti invieremo una notifica!

Inserisci un desiderata

Altre edizioni note dello stesso titolo

9780792393061: Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models: 208

Edizione in evidenza

ISBN 10:  0792393066 ISBN 13:  9780792393061
Casa editrice: Kluwer Academic Pub, 1992
Rilegato