Yield Simulation for Integrated Circuits - Brossura

Walker, D.M.

 
9781475719321: Yield Simulation for Integrated Circuits
Brossura
ISBN 10: 1475719329 ISBN 13: 9781475719321
Casa editrice: Springer, 2013

Al momento non sono disponibili copie per questo codice ISBN.

Sinossi

1. Introduction.- 2. Background.- 3. Defect Models.- 4. Defect Statistics.- 5. Fault Analysis.- 6. VLASIC Implementation.- 7. Redundancy Analysis System.- 8. Fabrication Data.- 9. Conclusions and Current Research.- References.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
Springer
Data di pubblicazione
2013
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1475719329
ISBN 13 
9781475719321
Rilegatura
Taschenbuch
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Germania

Altre edizioni note dello stesso titolo

9780898382440: Yield Simulation for Integrated Circuits: 33

Edizione in evidenza

ISBN 10:  0898382440 ISBN 13:  9780898382440
Casa editrice: Springer-Verlag GmbH, 1987
Rilegato