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Yield Simulation for Integrated Circuits - Brossura

Walker, D.M.

 
9781475719321: Yield Simulation for Integrated Circuits
Brossura
ISBN 10: 1475719329 ISBN 13: 9781475719321
Casa editrice: Springer, 2013

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Sinossi

1. Introduction.- 2. Background.- 3. Defect Models.- 4. Defect Statistics.- 5. Fault Analysis.- 6. VLASIC Implementation.- 7. Redundancy Analysis System.- 8. Fabrication Data.- 9. Conclusions and Current Research.- References.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
Springer
Data di pubblicazione
2013
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1475719329
ISBN 13 
9781475719321
Rilegatura
Paperback
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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