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Electrothermal Analysis of VLSI Systems - Brossura

Yi-Kan Cheng; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng

 
9781475773729: Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Brossura
ISBN 10: 1475773722 ISBN 13: 9781475773729
Casa editrice: Springer, 2013

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Sinossi

List of Figures. List of Tables. Preface. Acknowledgments. Part I: The Building Blocks. 1. Introduction. 2. Power Analysis for CMOS Circuits. 3. Temperature-Dependent MOS Device Modeling. 4. Thermal Simulation for VLSI Systems. 5. Fast-Timing Electrothermal Simulation. Part II: The Applications. 6. Temperature-Dependent Electromigration Reliability. 7. Temperature-Driven Cell Placement. 8. Temperature Driven Power and Timing Analysis. Index.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
Springer
Data di pubblicazione
2013
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1475773722
ISBN 13 
9781475773729
Rilegatura
Paperback
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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