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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Brossura

Echlin, Patrick; Fiori, C.E.; Goldstein, Joseph

 
9781475790283: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Brossura
ISBN 10: 1475790287 ISBN 13: 9781475790283
Casa editrice: Springer, 2013

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Sinossi

1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
Springer
Data di pubblicazione
2013
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1475790287
ISBN 13 
9781475790283
Rilegatura
Paperback
Numero di pagine
476
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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