Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225 - Rilegato

 
9781558991194: Materials Reliability Issues in Microelectronics: Volume 225
Rilegato
ISBN 10: 1558991190 ISBN 13: 9781558991194
Casa editrice: Cambridge University Press, 1991

Sinossi

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

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Descrizione del libro

With the increased complexity of modern integrated circuits, it is important that reliability problems be attacked properly with the appropriate tools. This volume recognizes that almost all reliability problems are materials problems, and helps to put 'reliabilty physics' on a firm scientific foundation. Topics include electromigration, stress and packaging, metallization and corrosion.

Product Description

Book by None

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Editore
Cambridge University Press
Data di pubblicazione
1991
Lingua
Inglese
ISBN 10 
1558991190
ISBN 13 
9781558991194
Rilegatura
Copertina rigida
Numero di pagine
382
Redattore
Lloyd James R., Yost Frederick G., Ho Paul S.
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
Avery
https://www.avery.fr/

chemin des peupliers 27
Dardilly
Francia

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