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Sinossi
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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Transistor Scaling (Hardback or Cased Book)
Editore:
Cambridge University Press 11/7/2006, 2006
ISBN 10: 1558998691
ISBN 13: 9781558998698
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Transistor Scaling: Volume 913: Methods, Materials and Modeling (MRS Proceedings)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
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Transistor Scaling: Volume 913
Editore:
Materials Research Society, US, 2006
ISBN 10: 1558998691
ISBN 13: 9781558998698
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Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
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Hardback. Condizione: New. For the past four decades, geometric scaling of silicon CMOS transistors has enabled not only an exponential increase in circuit integration density - Moore's Law - but also a corresponding enhancement in the transistor performance. Simple MOSFET geometric scaling has driven the industry to date. However, as the transistor gate lengths drop below 35nm and the gate oxide thickness is reduced to 1nm, physical limitations such as off-state leakage current and power density make geometric scaling an increasingly challenging task. In order to continue CMOS device scaling, innovations in device structures and materials are required and the industry needs a new scaling vector. Starting at the 90 and 65nm technology generation, strained silicon has emerged as one such innovation. Other device structures such as multigate FETs may be introduced to meet the scaling challenge. This book shares results and physical models related to MOSFETs and to discuss innovative approaches necessary to continue the transistor scaling. Expanded versions of presentations in the areas of technology development are featured. Codice articolo LU-9781558998698
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Transistor Scaling: Volume 913: Methods, Materials and Modeling (MRS Proceedings)
Editore:
Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 1558998691
ISBN 13: 9781558998698
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Prima edizione
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
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Condizione: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Thompson, Scott; Nouri, Faran; Lee, Wen-Chin; Tsai, Wilman. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 205 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM; TJFD3. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 18. Weight in Grams: 432. . 2006. 1st Edition. hardcover. . . . . Codice articolo V9781558998698
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Transistor Scaling: Volume 913: Methods, Materials and Modeling (MRS Proceedings)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Transistor Scaling
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
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Condizione: New. pp. ix + 205. Codice articolo 263058750
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Transistor Scaling: Volume 913: Methods, Materials and Modeling
Print on DemandDa: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
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Print on DemandDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
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Condizione: New. Print on Demand pp. ix + 205 Illus. Codice articolo 5837793
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Transistor Scaling: Methods, Materials and Modeling
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
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Hardcover. Condizione: Brand New. 205 pages. 9.00x6.00x0.56 inches. In Stock. Codice articolo x-1558998691
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Transistor Scaling: Volume 913: Methods, Materials and Modeling (MRS Proceedings)
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
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Condizione: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Thompson, Scott; Nouri, Faran; Lee, Wen-Chin; Tsai, Wilman. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 205 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM; TJFD3. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 18. Weight in Grams: 432. . 2006. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland. Codice articolo V9781558998698
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