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- EditoreMorgan & Claypool
- Data di pubblicazione2018
- ISBN 10 1643270001
- ISBN 13 9781643270005
- RilegaturaCopertina rigida
- LinguaInglese
- Numero di pagine125
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Quantum Metrology with Photoelectrons: Volume II: Applications and Advances (Iop Concise Physics)
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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II Applications and Advances Iop Concise Physics
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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II Applications and Advances Iop Concise Physics
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Quantum Metrology with Photoelectrons: Volume II: Applications and Advances (Iop Concise Physics)
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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances (Iop Concise Physics)
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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances (Iop Concise Physics)
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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances (Iop Concise Physics)
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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances (Iop Concise Physics)
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Quantum Metrology with Photoelectrons, Volume II: Applications and Advances
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Quantum Metrology with Photoelectrons: Volume II: Applications and Advances
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. KlappentextrnrnSince the turn of the century, the increasing availability of photoelectron imaging experiments, along with the increasing sophistication of experimental techniques, and the availability of computational resources for analysis and. Codice articolo 477464591
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