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Thin Film Analysis by X-Ray Scattering - Brossura

Birkholz, Mario

 
9783527607594: Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Brossura
ISBN 10: 3527607595 ISBN 13: 9783527607594
Casa editrice: John Wiley & Sons, 2006

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Editore
John Wiley & Sons
Data di pubblicazione
2006
Lingua
Inglese
ISBN 10 
3527607595
ISBN 13 
9783527607594
Rilegatura
Copertina flessibile
Numero di pagine
378
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
non disponibile

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