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Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - Rilegato

 
9783540740827: Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization
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The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. This is the first book to summarize the state-of-the-art of this technique. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

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Contenuti:

Luca Gavioli and Cinzia Cepek: Ultra-thin fullerene-based films via STM and STS.-

Alexander Gigler and Othmar Marti: Quantitative measurement of materials properties with the (Digital) Pulsed Force Mode.-

Bruno Pignataro: Advances in SPMs for Solid Supported Monolayers Investigation and Modification.-

Félix Rico, Ewa P. Wojocikiewicz, and V. Moy: Atomic force microscopy studies of the mechanical properties of living cells.-

Claire Verbelen, Guillaume Andre, Xavier Haulot, Yann Gilbert, David Alsteenes, Etienne Dague, and Y. F. Dufrene: Exploring microbial surfaces using AFM imaging and force spectroscopy.-

C. Riethmüller and H. Oberleithner: Cellular Physiology of Epithel and Endothel.-

Hyonchol Kim, Hironori Uehara, Rehana Afrin, Hiroshi Sekiguchi, Hideo Arakawa, Toshiya Osada, and Atsushi Ikai: Application of the Atomic Force Microscopy to the Study of Expressed Molecules in or on a Single Living Cell.-

Annalisa Relini, Claudio Canale, Ornella Cavalleri, Tiziana Svaldo Lanero, Ranieri Rolandi, and Alessandra Gliozzi: What can atomic force microscopy say about amyloid aggregates?.-

Zoya Leonenko, Matthias Amrein, David T. Cramb, and Eric Finot: Atomic force microscopy: interaction forces in phospholipid monolayers, bilayers and cell membranes.-

Enamul Hoque, James DeRose, B. Bhushan, and H. J. Mathieu: Self-Assembled Monolayers (SAM) on Aluminum and Copper Oxide Surfaces: Surface and Interface Characteristics, Nanotribological Properties, and Chemical Stability.-

Nikhil S. Tambe and Bharat Bhushan: High Sliding Velocity Nanotribological Investigations of Materials for Nanotechnology Applications.-

Sung-Kyoung Kim and Haiwon Lee: Measurement of Mechanical Properties of One-Dimensional Polymer Nanostructures by AFM.-

Sriram Sundararajan and K. S. Kanaga Karuppiah: Evaluating Interfacial Properties of Polymeric Materials for Total Joint Replacements Using Scanning Probe Microscopy.-

Toshiharu Saiki: Near-field optical spectroscopy of single quantum constituents

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9783642093418: Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization: 4

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