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Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - Brossura

Voigtländer, Bert

 
9783662452417: Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
Brossura
ISBN 10: 3662452413 ISBN 13: 9783662452417
Casa editrice: Springer, 2015

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Sinossi

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

Editore
Springer
Data di pubblicazione
2015
Lingua
Inglese
ISBN 10 
3662452413
ISBN 13 
9783662452417
Rilegatura
Copertina flessibile
Numero di pagine
400
Contatto del produttore
non disponibile
Persona responsabile
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Germania

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