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Handbook of Materials Testing Reactors and Associated Hot Laboratories in the European Community: Nuclear Science and Technology - Rilegato

 
9789027713476: Handbook of Materials Testing Reactors and Associated Hot Laboratories in the European Community: Nuclear Science and Technology

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Von Der Hardt, Peter; Röttger, Heinz
Editore: Springer, 1981
ISBN 10: 9027713472 ISBN 13: 9789027713476
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Hardt, Peter von der|Röttger, Heinz
Editore: Springer Netherlands, 1981
ISBN 10: 9027713472 ISBN 13: 9789027713476
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Von der Hardt, Peter and Heinz Rottger (eds)
Editore: D. Reidel, 1981
ISBN 10: 9027713472 ISBN 13: 9789027713476
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Heinz Röttger
ISBN 10: 9027713472 ISBN 13: 9789027713476
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Estimating Device Reliability: Assessment of Credibility is concerned with the plausibility of reliability estimates obtained from statistical models. Statistical predictions are necessary because technology is always pushing into unexplored areas faster than devices can be made long-lived by design. Flawed reliability methodologies can produce disastrous results, an outstanding example of which is the catastrophic failure of the manned space shuttle CHALLENGER in January 1986. This issue is not whether, but which, statistical models should be used. The issue is not making reliability estimates, but is instead their credibility. The credibility questions explored in the context of practical applications include: What does the confidence level associated with the use of statistical model mean Is the numerical result associated with a high confidence level beyond dispute When is it appropriate to use the exponential (constant hazard rate) model Does this model always provide the most conservative reliability estimate Are the results of traditional 'random' failure hazard rate calculations tenable Are there persuasive alternatives What model should be used to describe the useful life of a device when wearout is absent When Weibull and lognormal failure plots containing a large number of failure times appear similar, how should the correct wearout model be selected Is it important to distinguish between a conservative upper bound on a probability of failure and a realistic estimate of the same probability Estimating Device Reliability: Assessment of Credibility is for those who are obliged to make reliability calculations with a paucity of somewhat corrupt data, by using inexact models, and by making physical assumptions which are impractical to verify. Illustrative examples deal with a variety of electronic devices, ICs and lasers.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 164 pp. Englisch. Codice articolo 9789027713476

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Editore: Springer, 1981
ISBN 10: 9027713472 ISBN 13: 9789027713476
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Estimating Device Reliability: Assessment of Credibility is concerned with the plausibility of reliability estimates obtained from statistical models. Statistical predictions are necessary because technology is always pushing into unexplored areas faster than devices can be made long-lived by design. Flawed reliability methodologies can produce disastrous results, an outstanding example of which is the catastrophic failure of the manned space shuttle CHALLENGER in January 1986. This issue is not whether, but which, statistical models should be used. The issue is not making reliability estimates, but is instead their credibility. The credibility questions explored in the context of practical applications include: What does the confidence level associated with the use of statistical model mean Is the numerical result associated with a high confidence level beyond dispute When is it appropriate to use the exponential (constant hazard rate) model Does this model always provide the most conservative reliability estimate Are the results of traditional 'random' failure hazard rate calculations tenable Are there persuasive alternatives What model should be used to describe the useful life of a device when wearout is absent When Weibull and lognormal failure plots containing a large number of failure times appear similar, how should the correct wearout model be selected Is it important to distinguish between a conservative upper bound on a probability of failure and a realistic estimate of the same probability Estimating Device Reliability: Assessment of Credibility is for those who are obliged to make reliability calculations with a paucity of somewhat corrupt data, by using inexact models, and by making physical assumptions which are impractical to verify. Illustrative examples deal with a variety of electronic devices, ICs and lasers. Codice articolo 9789027713476

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Editore: Springer, 1981
ISBN 10: 9027713472 ISBN 13: 9789027713476
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito

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R?ttger Heinz von der Hardt Peter
Editore: Springer, 1981
ISBN 10: 9027713472 ISBN 13: 9789027713476
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Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania

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ISBN 10: 9027713472 ISBN 13: 9789027713476
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