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Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation - Brossura

 
9789811304552: Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation

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Sinossi

Electron/Ion Optics.- Scanning Electron Microscopy.- Transmission Electron Microscopy.- Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM).- Spectroscopy.- Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy and Its Applications.- In situ TEM: Theory and Applications.- Helium Ion Microscopy.

Le informazioni nella sezione "Riassunto" possono far riferimento a edizioni diverse di questo titolo.

  • EditoreSpringer
  • Data di pubblicazione2018
  • ISBN 10 9811304556
  • ISBN 13 9789811304552
  • RilegaturaPaperback
  • LinguaInglese
  • Contatto del produttorenon disponibile

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ISBN 10:  981130453X ISBN 13:  9789811304538
Casa editrice: Springer, 2018
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