VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers: 892 - Brossura
Sinossi
This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.
The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces.
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VLSI Design and Test (eng)
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VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 892)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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VLSI Design and Test
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Springer Nature Singapore Jan 2019, 2019
ISBN 10: 9811359490
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces. 740 pp. Englisch. Codice articolo 9789811359491
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VLSI Design and Test
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Vlsi Design And Test : 22nd Internationa
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VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 892)
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VLSI Design and Test | 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
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Taschenbuch. Condizione: Neu. VLSI Design and Test | 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers | S. Rajaram (u. a.) | Taschenbuch | xviii | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9789811359491 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. Codice articolo 115080588
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VLSI Design and Test
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VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 892)
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VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers (Communications in Computer and Information Science, 892)
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