Tav3; 229 pages; light fading to spine. Light scratches to the back cover. Couple of tiny smudges to the exterior edges of textblock. Good condition otherwise. No other noteworthy defects. No markings. ; - Your satisfaction is our priority. We offer free returns and respond promptly to all inquiries. Your item will be carefully cushioned in bubble wrap and securely boxed. All orders ship on the same or next business day. Buy with confidence.

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Dati bibliografici

Titolo: ACM Sigsoft 1989 Third Symposium on Software Testing, Analysis, & Verification , Held December 13-15, 1989, Key West, Florida
Editore: Association for Computing Machinery, Key West, FL
Data di pubblicazione: 1989
Lingua: Inglese
ISBN 10: 0897913426
ISBN 13: 9780897913423
Rilegatura: Paperback
Edizione: Serial Issue.
Condizione: Good+

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