Accuracy in Trace Analysis: Sampling, Sample Handling, Analysis, Volume 1: Proceedings of the 7th Materials Research Symposium

Lingua: inglese

Editore: U.S. Department of Commerce, 1976

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Hardcover, Volume 1 only; NBS Special Publication 422; proceedings held at the National Bureau of Standards in Gaithersburg, Maryland, October 7-11, 1 974; light fading, light shelf wear to exterior; otherwise in very good con dition with clean text, firm binding.

Codice articolo 78044

Dati bibliografici

Titolo
Accuracy in Trace Analysis: Sampling, Sample Handling, Analysis, Volume 1: Proceedings of the 7th Materials Research Symposium
Autore
Lafleur, Philip D., Editor
Editore
U.S. Department of Commerce
Anno di pubblicazione
1976
Condizione
UsedVeryGood
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese

BookDepart

Shepherdstown, WV, U.S.A.

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