Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Echlin, Patrick; Fiori, Charles E.; Goldstein, Joseph I.

ISBN 10: 1475790295 ISBN 13: 9781475790290
Editore: Springer, 2013
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

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