Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Echlin, Patrick; Fiori, C.E.; Goldstein, Joseph; Joy, David C.; Newbury, Dale E.

ISBN 10: 1475790295 ISBN 13: 9781475790290
Editore: Springer, 2013
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

Venduto da Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 25 marzo 2015

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Brossura

Condizione: Nuovo

Prezzo: EUR 111,03 Convertire valuta
EUR 13,72 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A. Destinazione, tempi e costi

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungere al carrello