Advanced Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Echlin, Patrick/ Fiori, C. E./ Goldstein, Joseph/ Joy, David C./ Newbury, Dale E.

ISBN 10: 1475790295 ISBN 13: 9781475790290
Editore: Springer Verlag, 2013
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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