Advanced Test Methods for SRAMs | Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Alberto Bosio (u. a.)

ISBN 10: 1489983147 ISBN 13: 9781489983145
Editore: Springer US, 2014
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

Venduto da preigu, Osnabrück, Germania

Venditore AbeBooks dal 5 agosto 2024

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Brossura

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 97,70
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.

Quantità: 5 disponibili

Aggiungere al carrello