Advances in Pattern Recognition : Icapr 2001 : Second International Conference, Rio De Janeiro, Brazil, March 11-14, 2001 : Proceedings

International Conference on Advances in Pattern Recognition (2nd : 2001 : Rio de Janeiro, Brazil) (COR); Murshed, Nabeel A. (EDT); Kropatsch, Walter G. (EDT); Singh, Sameer (EDT); Murshed, Nabeel A.; Kropatsch, Walter G.

ISBN 10: 3540417672 ISBN 13: 9783540417675
Editore: Springer, 2001
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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