Analytical Electron Microscopy for Materials Science. Questo articolo non è disponibile.

Lingua: inglese

Editore: Springer, 2002

4431703365 / 9784431703365

Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections

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Titolo
Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Autore
Shindo, D.; Oikawa, T.; Shindo, Daisuke; Oikawa, Tetsuo
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
2002
Condizione
New
Rilegatura
Brossura
Lingua
inglese
ISBN 10
4431703365
ISBN 13
9784431703365
Peso dell'articolo
514 grammi

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