Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method

Pierre-Richard Dahoo|Philippe Pougnet|Abdelkhalak El Hami

ISBN 10: 1786306875 ISBN 13: 9781786306876
Editore: John Wiley & Sons, 2021
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

Venduto da moluna, Greven, Germania

Venditore AbeBooks dal 9 luglio 2020

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Condizione: Nuovo

Prezzo: EUR 157,43 Convertire valuta
EUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A. Destinazione, tempi e costi

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello