Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics, Band 10)

Dahoo, Pierre-Richard

ISBN 10: 1786306875 ISBN 13: 9781786306876
Editore: Wiley-ISTE, 2021
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Buono Rilegato

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