Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics, Band 10)

Lingua: inglese

Editore: Wiley-ISTE, 2021

1786306875 / 9781786306876

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Titolo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method (Mechanical Enginnering and Solid Mechanics, Band 10)
Autore
Dahoo, Pierre-Richard
Editore
Wiley-ISTE
Anno di pubblicazione
2021
Condizione
Good
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
1786306875
ISBN 13
9781786306876

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