Artificial Intelligence and Machine Learning : 32nd Benelux Conference, Bnaic/Benelearn 2020, Leiden, the Netherlands, November 19?20, 2020, Revised Selected Papers

Baratchi, Mitra (EDT); Cao, Lu (EDT); Kosters, Walter (EDT); Lijffijt, Jefrey (EDT); Van Rijn, Jan N. (EDT)

ISBN 10: 303076639X ISBN 13: 9783030766399
Editore: Springer, 2021
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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