Automated Technology for Verification and Analysis: 5th International Symposium, Atva 2007 Tokyo, Japan, October 22-25, 2007 Proceedings

Namjoshi, Kedar (Editor)/ Yoneda, Tomohiro (Editor)/ Higashino, Teruo (Editor)/ Okamura, Yoshio (Editor)

ISBN 10: 3540755950 ISBN 13: 9783540755951
Editore: Springer-Verlag New York Inc, 2007
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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