Backscattered Scanning Electron Microscopy and Image Analysis of Sediments and Sedimentary Rocks

Tovey N. Keith Boggs Sam Pye Kenneth Krinsley David H.

ISBN 10: 0521453461 ISBN 13: 9780521453462
Editore: Cambridge University Press, 1998
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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