CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Lingua: inglese

Editore: Springer Netherlands Okt 2010, 2010

904817855X / 9789048178551

Serie: Libro 21 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. 212 pp. Englisch.

Codice articolo 9789048178551

Titolo
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Autore
Manoj Sachdev
Editore
Springer Netherlands Okt 2010
Anno di pubblicazione
2010
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
904817855X
ISBN 13
9789048178551
Peso dell'articolo
330 grammi
Dimensioni
235x155x12 mm
Serie
Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic Testing

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Germania

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