CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing (40))

Libro 21 di 40: Frontiers in Electronic Testing

Pavlov, Andrei, Sachdev, Manoj

ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Editore: Springer, 2010
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

Venduto da Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 15 aprile 2021

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Brossura

Condizione: Usato - Come nuovo

Prezzo:
EUR 248,06
Spedizione EUR 28,95
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello