Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy

Lingua: inglese

Editore: CRC Press, 2000

075030748X / 9780750307482

Serie: Libro 3 di 5 - Series in Microscopy in Materials Science

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Details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. This book also focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops. Series: Series in Microscopy in Materials Science. Num Pages: 224 pages, references, index. BIC Classification: PDND; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 156 x 19. Weight in Grams: 476. . 2000. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.

Codice articolo V9780750307482

Titolo
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Autore
Jenkins, M.L
Editore
CRC Press
Anno di pubblicazione
2000
Condizione
New
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
075030748X
ISBN 13
9780750307482
Serie
Libro 3 di 5: Series in Microscopy in Materials Science

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