Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods

Lingua: inglese

Editore: Springer US, 2012

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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna

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Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book contains the proceedings of a NATO Advanced Study Institute entitled Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods held in the University of Durham, England from 29th August to 10th September 1979. The current interest in electroni.

Codice articolo 4206988

Titolo
Characterization of Crystal Growth Defects by X-Ray Methods
Autore
B.K. Tanner
Editore
Springer US
Anno di pubblicazione
2012
Condizione
New
Rilegatura
Brossura
Lingua
inglese
ISBN 10
147571128X
ISBN 13
9781475711288

moluna

Greven, Germania

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