Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion

Lingua: inglese

Editore: Springer Verlag, 2008

1848820585 / 9781848820586

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Codice articolo x-1848820585

Titolo
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion
Autore
Seebauer, Edmund G./ Kratzer, Meredith C.
Editore
Springer Verlag
Anno di pubblicazione
2008
Condizione
Brand New
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
1848820585
ISBN 13
9781848820586
Peso dell'articolo
0,75 chilogrammi

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