Combinatorial Pattern Matching : 16th Annual Symposium, Cpm 2005, Jeju Island, Korea, June 19-22, 2005, Proceedings

Apostolico, Alberto (EDT); Crochemore, Maxime (EDT); Park, Kunsoo (EDT)

ISBN 10: 3540262016 ISBN 13: 9783540262015
Editore: Springer, 2005
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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