Computer Analysis of Images and Patterns : 14th International Conference, Caip 2011, Seville, Spain, August 29-31, 2011, Proceedings, Part II

Berciano, Ainhoa (EDT); Díaz-pernil, Daniel (EDT); Kropatsch, Walter (EDT); Molina-abril, Helena (EDT); Real, Pedro (EDT)

ISBN 10: 3642236774 ISBN 13: 9783642236778
Editore: Springer, 2011
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

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