Computerized Multistage Testing : Theory and Applications

Yan, Duanli (EDT); Von Davier, Alina A. (EDT); Lewis, Charles (EDT)

ISBN 10: 146650577X ISBN 13: 9781466505773
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2014
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Rilegato

Venduto da GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 28 gennaio 2020

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Rilegato

Condizione: Usato - Come nuovo

Prezzo: EUR 170,04 Convertire valuta
EUR 17,15 per la spedizione da Regno Unito a Italia Destinazione, tempi e costi

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungere al carrello