From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing (5))

Libro 28 di 40: Frontiers in Electronic Testing

Khare, Jitendra B., Maly, Wojciech

ISBN 10: 146128595X ISBN 13: 9781461285953
Editore: Springer, 2011
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Brossura

Venduto da Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 15 aprile 2021

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Brossura

Condizione: Usato - Come nuovo

Prezzo:
EUR 164,13
Spedizione EUR 28,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello